多裸片芯片設計中凸點與硅通孔的高效規劃方案
近年來半導體行業發展迅猛,尤其是高性能計算、人工智能和先進汽車系統的需求持續攀升,傳統單裸片芯片設計已難以滿足當下的功耗、性能、面積(PPA)指標要求。為此,工程師們開始采用多裸片架構,將多個小尺寸裸片集成在單個封裝中。該架構雖提升了芯片的可擴展性與性能,卻也帶來了新的挑戰,其中互連規劃問題尤為突出。而實現不同裸片間的通信,凸點與硅通孔(TSV)的高效規劃,是多裸片集成過程中至關重要的環節。

(圖 1:基于電子表格的凸點規劃示意圖)
在多裸片設計中,芯片間的互連通過布置在裸片表面的微凸點或混合鍵合焊盤實現,這些凸點是裸片與中介層、襯底之間的電連接點?,F代芯片設計往往需要數十萬甚至上百萬個此類連接點,且隨著裸片數量與互連點的增加,規劃和管理這些連接的復雜度也會急劇上升。相關白皮書指出,不合理的凸點規劃會對芯片的布線可行性、布線質量及整體設計效率產生負面影響。
傳統的凸點規劃依靠電子表格、繪圖軟件等簡易圖形工具人工完成,這種方式雖適用于早期僅有數千個連接點的單裸片倒裝芯片設計,卻已無法滿足如今大規模多裸片系統的設計需求。人工規劃不僅耗時費力,還極易出現人為失誤;此外,對某一裸片的凸點布局進行修改后,往往需要對其他裸片或封裝設計做出相應調整,若這些更新未能實現有效同步,后續研發環節便可能出現嚴重的設計錯誤。
為解決上述問題,現代電子設計自動化(EDA)工具具備了自動化凸點規劃功能。設計人員可通過這類工具定義凸點區域 —— 即裸片上用于布置凸點的矩形或不規則區域,且每個區域內的凸點可根據引腳間距、排布間距、對齊方式等約束條件,遵循特定模式進行布置。完成模式定義后,軟件便能快速、精準地自動生成數千個凸點;若區域尺寸或設計約束發生變化,凸點布局也會自動更新,大幅節省設計人員的時間與精力。
信號分配是凸點規劃的另一核心環節,每個凸點都必須與特定的信號、電源線或接地網絡相連。設計人員可手動完成信號分配,也可借助自動化算法,根據線長、布線效率等因素優化凸點布局。自動化信號分配能對整個多裸片系統進行分析,確定信號與凸點的最優映射方式,從而提升芯片整體性能,降低設計復雜度。
除凸點規劃外,設計人員還需對硅通孔(TSV) 進行精細規劃。硅通孔是貫穿硅基裸片的垂直電連接結構,可實現信號和電源從裸片背面到正面布線層的傳輸,在多裸片垂直堆疊的 3D 堆疊芯片設計中尤為關鍵。但硅通孔的結構尺寸相對較大,需要預留足夠的排布間距與禁布區,避免對周邊電路造成損壞;若硅通孔布局不當,會減少邏輯單元的可用面積,還會對時序性能產生不利影響。因此,設計中必須通過精細規劃實現硅通孔的優化布局,同時保證芯片的各項功能不受影響。
現代設計平臺將凸點與硅通孔規劃整合至統一的設計流程中,工程師可通過二維和三維視圖可視化展示各類連接、跟蹤工程設計變更,并執行自動化的設計規則檢查。借助這類工具,能在設計初期及時發現對齊誤差、連接缺失、信號不匹配等問題,從而避免在后續的制造環節產生高成本的失誤。
核心結論
凸點與硅通孔的高效規劃,是多裸片半導體設計成功的關鍵所在。隨著芯片架構的日趨復雜,人工規劃方式已難以滿足設計需求。自動化設計工具與規范化的規劃方法,能幫助工程師管理數百萬個連接點、保證設計精度,并加快產品的上市周期。隨著人工智能、高性能計算等先進技術的持續發展,高效的互連規劃仍將是現代半導體設計的一項基礎要求。






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