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碳化硅賦能浪潮教程:利用 SiC CJFET替代超結(jié) MOSFET

作者: 時間:2026-04-22 來源:安森美 收藏
系列文章:
  1. 2026-03-27碳化硅賦能浪潮教程:SiC JFET驅(qū)動工業(yè)與服務(wù)器電源革新
  2. 2026-04-14碳化硅賦能浪潮教程:替代Si 和SiC MOSFET的方案
  3. 2026-04-22碳化硅賦能浪潮教程:利用 SiC CJFET替代超結(jié) MOSFET

(SiC)憑借其優(yōu)異的材料特性,在服務(wù)器、工業(yè)電源等關(guān)鍵領(lǐng)域掀起技術(shù)變革浪潮。本教程聚焦 SiC 尤其是 SiC JFET 系列器件,從如何重構(gòu)電源設(shè)計邏輯出發(fā),剖析其在工業(yè)與服務(wù)器電源場景的應(yīng)用價值。

我們已經(jīng)介紹了

如何革新電源設(shè)計、工業(yè)與服務(wù)器電源。

三種替代 Si 和 SiC 的方案。

SiC Cascode JFET的動態(tài)特性、SiC Combo JFET的應(yīng)用靈活性。

本文將介紹利用 替代超結(jié) 以及開關(guān)電源應(yīng)用。

1、利用 替代超結(jié)

與競品對比

本表對比了(onsemi) Elite 器件 UJ4C075033K3S 與某競品廠商的Si超結(jié)(SJ) MOSFET 的關(guān)鍵特性。其中,UJ4C075033K3S 在25°C 下的額定值為 750 V,33 mΩ; 而競品Si SJ MOSFET 在25°C 下的額定值為 650 V,29 mΩ。在此對比中,該 CJFET 的反向恢復(fù)電荷 QRR 降低至 1/60,柵極電荷 QG 降低至 1/6,反向傳輸電容 COSS(tr) 降低至 1/10。

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最大限度降低反向傳輸電容

SiC CJFET 與 Si SJ MOSFET 之間最顯著的差異在于電容特性與裸片尺寸。在 UJ4C075044B7S CJFET 與某競品 Si SJ MOSFET 的對比中,盡管 CJFET 的阻斷電壓 VBRDSS 高出 100V,且兩者的導(dǎo)通電阻 RDS(on) 額定值相近,但 SJ MOSFET 的反向傳輸電容 COSS(tr) 卻高出 13倍 以上。這一差異源于 SJ MOSFET在低壓范圍內(nèi)表現(xiàn)出的非線性特性,如下圖所示。CJFET 的電壓轉(zhuǎn)換時間遠(yuǎn)短于SJ MOSFET 。在采用半橋整流拓?fù)?而非全橋)的電源系統(tǒng)中,CJFET 能始終實現(xiàn)顯著更快的開關(guān)速度。

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降低導(dǎo)通損耗,縮短死區(qū)時間

在用 SiC CJFET替代 Si SJ MOSFET 時,安森美建議通過調(diào)整死區(qū)時間(dead time)或在 CJFET 上增加緩沖電容,以有效管理因死區(qū)引起的導(dǎo)通損耗。尤其在較高開關(guān)頻率下,死區(qū)時間帶來的影響會變得更加顯著。

對于CJFET而言,從檢測到電流反向到JFET溝道完全導(dǎo)通通常存在延遲。舉例來說:若死區(qū)時間為 100 ns,而開關(guān)頻率為 100 kHz,則開關(guān)周期為 10 μs,此時死區(qū)僅占周期的 1%,該延遲影響相對較小。然而,若開關(guān)頻率提升至 1 MHz,開關(guān)周期將縮短至 1 μs,死區(qū)時間便占整個周期的 10%,其影響不可忽視。

在相同死區(qū)時間下,相較于 Si SJ MOSFET,SiC CJFET 的漏源電壓 VDS 放電速度更快,導(dǎo)致其體二極管在剩余死區(qū)時間內(nèi)持續(xù)導(dǎo)通。假設(shè) CJFET 剩余死區(qū)時間 TDT(CJFET) 為 0.2 μs,體二極管正向壓降 VFD 為 1.2 V,開關(guān)頻率 FSW 為 100 kHz,開關(guān)電流 IC 為 10 A,則全橋拓?fù)渲杏墒S嗨绤^(qū)引起的功率損耗 PDT 可通過以下公式計算:

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在此案例中,計算得出的損耗為0.96W。然而,通過對柵極應(yīng)用Adaptive Gate Control, 在死區(qū)時間內(nèi)提前提升 VG2,讓 VDS(CJFET) 降至 0V 的瞬間開通。即可使該部分損耗趨近于零。這一效果可通過觀測 VDS 與 VGS 的輸出波形加以驗證。

死區(qū)時間越長,體二極管導(dǎo)通損耗的持續(xù)時間也越長。通過縮短 CJFET 的死區(qū)時間,或為其增加緩沖電容以匹配 Si SJ MOSFET 的 COSS ,可有效改善此問題。

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消除反向恢復(fù)失效風(fēng)險

在對比 SiC CJFET與Si SJ MOSFET時,當(dāng)兩者具有相同的電流變化率( Δi/Δt )并在相同的結(jié)溫( TJ = 25°C )下工作,安森美UJ4C075033K3S CJFET 的反向恢復(fù)電荷( QRR )最多可比后者低 60 倍 。更小的反向恢復(fù)電荷意味著更高效率、更低噪聲與更優(yōu)的電磁兼容性。此外,CJFET在反向恢復(fù)過程中沒有導(dǎo)致器件失效的風(fēng)險,可顯著提升系統(tǒng)整體穩(wěn)健性。

2、開關(guān)電源應(yīng)用

適用于任何電壓等級的高能效表現(xiàn)

為展示CJFET在電源快速開關(guān)需求下的性能,我們測試了四款不同的安森美 CJFET 器件在3.6 kW圖騰柱功率因數(shù)校正 (TPPFC) 硬開關(guān)拓?fù)渲械男省K斜粶yCJFET在半負(fù)載條件下均實現(xiàn)了超過99% 的峰值效率。


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同步整流 (SR) 技術(shù)

同步整流的實現(xiàn),首先在于用可控的場效應(yīng)晶體管(FET)替代諧振型電源轉(zhuǎn)換器中通常在初級側(cè)(有時也在次級側(cè))使用的二極管。由于這些 FET 的開關(guān)時序可以更直接地控制,轉(zhuǎn)換器輸出的直流波形能夠更準(zhǔn)確地匹配負(fù)載所需的電壓和頻率。


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全橋移相有源橋零電壓轉(zhuǎn)換拓?fù)?/span>

以這種在 AC-DC 應(yīng)用中日益普及的電路拓?fù)錇槔?所有通常使用二極管的開關(guān)位置均被場效應(yīng)晶體管替代。“ZVT”代表零電壓轉(zhuǎn)換,該技術(shù)巧妙利用了主變壓器的漏電感與開關(guān)的輸出電容——這些通常被視為寄生元件的特性——并將其轉(zhuǎn)化為優(yōu)勢。

例如,在標(biāo)準(zhǔn)全橋拓?fù)渲兄糜诔跫墏?cè)外部的漏電感,現(xiàn)在可集成至內(nèi)部。它在實現(xiàn)相同功能的同時,大幅縮減了占用空間。

通過有源橋移相控制,脈寬調(diào)制(PWM)可轉(zhuǎn)換為固定開關(guān)頻率的工作模式,這使控制實現(xiàn)更為簡便,同時降低了開關(guān)對擊穿電壓的耐壓要求。電磁干擾頻譜也更為集中,使系統(tǒng)在整個寬輸出電壓范圍內(nèi)均能實現(xiàn)穩(wěn)定且高效率的運(yùn)行。

零電壓開關(guān)(ZVS)

從電氣工程師的角度來看,全橋功率轉(zhuǎn)換過程的一大優(yōu)勢在于它能夠?qū)崿F(xiàn)軟開關(guān)。嚴(yán)格來說,ZVS 并非一種刻意設(shè)計的技術(shù)手段,而更像是一種可被巧妙利用的物理現(xiàn)象。它通過功率轉(zhuǎn)換器的諧振網(wǎng)絡(luò)(或稱“諧振腔”)得以實現(xiàn)。

典型的零電壓開關(guān)會利用電容和電感構(gòu)成一個諧振電路(即“諧振腔”)。而在實際應(yīng)用中,常以變壓器固有的勵磁電流作為便捷的替代。可以把這個勵磁電流看作一種振蕩信號,它能夠在PFC電路中 MOSFET(或 CJFET)兩端電壓為零(或極低)時,將器件導(dǎo)通。

波形整形的核心思想是:在輸入電壓處于波峰或波谷時導(dǎo)通或關(guān)斷輸出開關(guān),而諧振所產(chǎn)生的自然振蕩,恰好為這種基于電感特性的開關(guān)動作提供了理想時序。

該電流被有意設(shè)置為相位滯后于諧振網(wǎng)絡(luò)的電壓,正是這種滯后引發(fā)了諧振,從而觸發(fā)場效應(yīng)晶體管導(dǎo)通(并促使其他開關(guān)按序關(guān)斷)。在此過程中,開關(guān)損耗得以有效避免,EMI 噪聲也顯著降低。

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高頻電源的五個轉(zhuǎn)換級


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這是前文介紹的圖騰柱PFC完整電路圖。這種全"無橋式"拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)包含五個功率轉(zhuǎn)換級。最左側(cè)為硬開關(guān),其余四個均采用軟開關(guān)技術(shù)。從左至右,每個同步整流轉(zhuǎn)換級的電路結(jié)構(gòu)逐級簡化。

對于“快速橋臂”(即硬開關(guān)),圖騰柱PFC需搭配RC緩沖器使用CJFET。若PCB布局空間受限無法容納此元件,則 SiC MOSFET 可能成為唯一選擇。否則,若考慮 CJFET 配合 RC 緩沖電路所能實現(xiàn)的性能特性,CJFET 將是更優(yōu)方案。

對于"慢速橋臂"(即同步整流器件),其核心要求是具備低導(dǎo)通電阻RDS(on) ,因此CJFET是最佳選擇。


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對于位于中間的初級 LLC 轉(zhuǎn)換級(因其緊鄰兩個電感L和一個電容C而得名),導(dǎo)通損耗是主要損耗因素。在高開關(guān)頻率下,關(guān)斷開關(guān)損耗是另一個關(guān)鍵參數(shù),因為 LLC 作為一種零電壓開關(guān)(ZVS)拓?fù)?不存在導(dǎo)通損耗。CJFET 在配置緩沖器后已展現(xiàn)出極低的關(guān)斷能量損耗Eoff ,因此是初級 LLC 轉(zhuǎn)換級的最佳選擇。

隨后的次級 LLC 轉(zhuǎn)換級以及最右側(cè)的 O-Ring 級可用于 400 V 輸出電壓的設(shè)計中。對于此類高壓應(yīng)用,低導(dǎo)通電阻 RDS(on) 和低輸出電容 COSS 至關(guān)重要,這使得 CJFET 在整個次級側(cè)相比 SiC MOSFET 或 Si SJ MOSFET 更具優(yōu)勢。

未完待續(xù),我們將介紹CJFET通常需要配置緩沖電路的原因等。


關(guān)鍵詞: 安森美 碳化硅 SiC CJFET MOSFET

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