測(cè)試測(cè)量文章最新資訊

泰克DPO3000榮獲德國E & E雜志“最佳產(chǎn)品獎(jiǎng)”

　　中國北京, 2009年4月13日 – 全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布，DPO3000數(shù)字熒光示波器榮獲E & E“最佳產(chǎn)品獎(jiǎng)”測(cè)試測(cè)量類一等獎(jiǎng)。始于2005年的這一獎(jiǎng)項(xiàng)，為讀者提供了參與的平臺(tái)投票評(píng)選出他們認(rèn)為最優(yōu)秀的產(chǎn)品。DPO3000由于在E & E網(wǎng)站上備受好評(píng)而當(dāng)選。　　在2009年3月5日舉辦的國際嵌入式系統(tǒng)專業(yè)展(Embedded World)上，E & E總編Michael Brunn向泰克頒發(fā)了&
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測(cè)試測(cè)量行業(yè)2009年展望

當(dāng)前的經(jīng)濟(jì)刺激計(jì)劃使得中國測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)的投資機(jī)會(huì)凸現(xiàn)。測(cè)試測(cè)量巨頭發(fā)現(xiàn)當(dāng)前是進(jìn)行行業(yè)整合的較好時(shí)機(jī)，兼并潮預(yù)計(jì)會(huì)近期接踵而來。另外，隨著中國經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，政府著力發(fā)展一些熱點(diǎn)，比如食品安全，數(shù)字電視和環(huán)境保護(hù)。
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測(cè)試測(cè)量行業(yè)2009年展望

　　當(dāng)前的經(jīng)濟(jì)刺激計(jì)劃使得中國測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)的投資機(jī)會(huì)凸現(xiàn)。測(cè)試測(cè)量巨頭發(fā)現(xiàn)當(dāng)前是進(jìn)行行業(yè)整合的較好時(shí)機(jī)，兼并潮預(yù)計(jì)會(huì)近期接踵而來。另外，隨著中國經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，政府著力發(fā)展一些熱點(diǎn)，比如食品安全，數(shù)字電視和環(huán)境保護(hù)。　　自2004年以來，中國已經(jīng)頒發(fā)了一系列食品安全的法律法規(guī)，顯示了食品安全形勢(shì)的嚴(yán)峻性和政府對(duì)食品安全問題的重視。國家級(jí)，地方級(jí)的食品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心以及食品監(jiān)督管理部門都要求提高檢測(cè)能力，推動(dòng)了食品安全儀器市場(chǎng)的發(fā)展。三聚氰胺事件帶來了中國食品安全行業(yè)的革.命。中國政府宣布了對(duì)三聚氰胺全國
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牛！示波器能跑Ubuntu，還能掃雷？有圖為證

今天又發(fā)現(xiàn)有牛人啦!
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吉時(shí)利2009科研測(cè)試設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn)巡展在京啟動(dòng)

　　美國俄亥俄州克里夫蘭，2009年3月18日訊：吉時(shí)利儀器公司(NYSE：KEI)，作為新興測(cè)量解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，今日宣布將在中國啟動(dòng)“吉時(shí)利2009中國科研測(cè)試設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn)巡回展示”，專門為高校和研究機(jī)構(gòu)搭建學(xué)、研和具體實(shí)踐操作及面對(duì)面交流的平臺(tái)。
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2009年3月10日，泰克連續(xù)第三次榮獲英特爾首選優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商獎(jiǎng)

　　2009年3月10日，泰克連續(xù)第三次榮獲英特爾首選優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商獎(jiǎng)。
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150家廠商角逐中國大陸測(cè)試與測(cè)量市場(chǎng)

??????? 2007年，中國大陸通用測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)大約為4.6億美元，預(yù)計(jì)在2010年前每年的平均增長(zhǎng)速度為9%。隨著中國大陸市場(chǎng)的成熟，在2007年到2010年間，示波器、信號(hào)發(fā)生器、任意波形（功能）發(fā)生器（AWG）預(yù)計(jì)將以較為穩(wěn)定的速度發(fā)展，年增長(zhǎng)率大約為9%。在此期間，邏輯分析儀、萬用表、功率計(jì)、LCR（電感、電容、電阻）計(jì)、和頻譜分析儀等其他測(cè)試設(shè)備的增長(zhǎng)速度保持適中，在2007年到2010年間年增長(zhǎng)速度大約為6%。 &nb
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高速隨機(jī)數(shù)發(fā)生器簡(jiǎn)化眼圖測(cè)試

　　評(píng)估數(shù)字通信鏈路質(zhì)量的有效方法之一是眼圖,眼圖給出了每一位（第N位,介于N-1位隨機(jī)數(shù)和N+1位隨機(jī)數(shù)之間）的窗口。通信系統(tǒng)工程師一般采用傳統(tǒng)的測(cè)試儀器來測(cè)量和分析信道的誤碼率。但大部分專業(yè)工程師并不這樣做。對(duì)他們來說,圖1電路提供了一個(gè)替代方法——激勵(lì)來自一個(gè)數(shù)字信號(hào)源。
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分貝表(05-100)

　　本文所示分貝表電路根據(jù)電壓給出兩個(gè)功率的增益。它由LM324的兩個(gè)對(duì)數(shù)放大器A1、A2組成(圖1)。
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HT46R47組成的電壓頻率測(cè)量顯示電路(05-100)

引言對(duì)單片機(jī)為核心構(gòu)成的智能檢測(cè)儀器,測(cè)量電壓、頻率時(shí)有多種方法。一般對(duì)電壓測(cè)量采用A/D轉(zhuǎn)換法或V/F轉(zhuǎn)換法。對(duì)頻率測(cè)量則采用測(cè)頻法或測(cè)周法。具體說： ·A/D轉(zhuǎn)換法將被測(cè)電壓信號(hào)經(jīng)過阻抗匹配,變成單片機(jī)可測(cè)量的電壓范圍,后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)得相應(yīng)的電壓值。 ·V/F轉(zhuǎn)換則將被測(cè)電壓加到V/F轉(zhuǎn)換器上,然后對(duì)輸出的頻率進(jìn)行測(cè)量,后經(jīng)單片機(jī)內(nèi)部程序的換算轉(zhuǎn)換為電壓值。 ·測(cè)頻法是利用單片機(jī)內(nèi)部計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)一定門限內(nèi)的頻率信號(hào)脈沖數(shù)。 ·測(cè)周法是計(jì)時(shí)一定數(shù)量的被測(cè)頻率信號(hào)的脈沖的時(shí)間。總的來說,每種方法
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測(cè)試系統(tǒng)開關(guān)技術(shù)(05-100)

　　設(shè)計(jì)完善的開關(guān)系統(tǒng)至少應(yīng)具備3個(gè)子系統(tǒng)：計(jì)算機(jī)控制與處理、測(cè)量?jī)x表和開關(guān)。只要再增加DUTC(被測(cè)設(shè)備)電源和DUT負(fù)載就構(gòu)成完整的功能測(cè)試設(shè)備。無可爭(zhēng)辯的是,開關(guān)子系統(tǒng)是測(cè)試系統(tǒng)的心臟,因?yàn)樗衅渌酉到y(tǒng)是測(cè)試系統(tǒng)的心臟,因?yàn)樗衅渌酉到y(tǒng)都要與它接口。因此,對(duì)它有一個(gè)全面的、正確的了解是十分必要的。
關(guān)鍵字：測(cè)試測(cè)量開關(guān)系統(tǒng) P580

JTAG測(cè)試(05-100)

　　現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測(cè)試中,使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)測(cè)試技術(shù)。
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邊界掃描與處理器仿真測(cè)試(05-100)

　　當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測(cè)試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測(cè)試方法都有其固有的局限性。于是,測(cè)試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測(cè)試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測(cè)試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測(cè)試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測(cè)試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測(cè)試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無法比擬的。
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嵌入式邊界掃描(05-100)

　　邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級(jí)測(cè)試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
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用LXI構(gòu)建合成儀器(05-100)

　　合成儀器(SI)由模塊化組件構(gòu)建并啟用高速處理器和近代總線技術(shù),有望給測(cè)試用戶帶來更多的功能與靈活性,較低廉的總成本、更高速操作、更小的物理占用面積以及較長(zhǎng)的使用壽命。然而,生產(chǎn)廠家和用戶共同面臨的一個(gè)問題是缺乏統(tǒng)一的,能滿足體系結(jié)構(gòu)和商品化要求的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。PXI和VXI模塊儀器是這類應(yīng)用的最佳候選,但對(duì)SI設(shè)計(jì)人員亦有諸多限制,最終形成具有專用接口與控制模塊包裝的混合系統(tǒng)。
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測(cè)試測(cè)量介紹

電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀…… 　　通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試　　儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]