半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊
飛思卡爾用經(jīng)濟(jì)高效的調(diào)試工具包簡化8位代碼的開發(fā)
- 使用飛思卡爾的低端8位微控制器(MCU)的嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員現(xiàn)在可以簡單快速地調(diào)試他們的代碼,做到“開箱即用”。飛思卡爾已經(jīng)引入了強(qiáng)大的、簡單的和經(jīng)濟(jì)高效的調(diào)試工具包,使設(shè)計(jì)人員在完成他們的嵌入式應(yīng)用之前,能夠靈活地開發(fā)、評(píng)估和測(cè)試8位代碼。 專為飛思卡爾的S08 MCU設(shè)計(jì)的USBSYPDER08 發(fā)現(xiàn)工具包針對(duì)廣受歡迎的MC9S08QG、MC9S08QD和MC9RS08KA系列,是飛思卡爾成員隊(duì)伍日益壯大的、使用簡便的嵌入式應(yīng)用開發(fā)工具最新版本。該工具包具有基于USB電路內(nèi)
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NS推出首款保證在不同溫度下仍能保證準(zhǔn)確測(cè)量的射頻功率檢波器
- 美國國家半導(dǎo)體公司宣布推出業(yè)界首款保證在不同溫度下仍能保證準(zhǔn)確測(cè)量的射頻功率檢波器,確保第三代 (3G) 移動(dòng)電話可以靈活控制射頻功率。美國國家半導(dǎo)體的 LMV221 射頻功率檢波器可以準(zhǔn)確控制射頻發(fā)射功率,確保發(fā)射功率可在廣闊的溫度范圍內(nèi)保持穩(wěn)定,而且在廣闊的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)也準(zhǔn)確無誤。這款芯片適用于不同的頻帶,覆蓋范圍介于 50MHz 與 3.5GHz 之間,動(dòng)態(tài)范圍則達(dá) 40dB,而且在攝氏 -40&n
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基于邊界掃描技術(shù)的數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試研究
- 當(dāng)今,微電子技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入超大規(guī)模集成電路(VLSI)時(shí)代。隨著芯片電路的小型化及表面封裝技術(shù)(SMT)和電路板組裝技術(shù)的發(fā)展,使得傳統(tǒng)測(cè)試技術(shù)面臨著巨大的挑戰(zhàn)。在這種情況下,為了提高電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組(JTAG)于1987年提出了一種新的電路板測(cè)試方法--邊界掃描測(cè)試,并于1990年被IEEE接納,形成了IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn),也稱為JTAG標(biāo)準(zhǔn)[1]。這種技術(shù)以全新的"虛擬探針"代替?zhèn)鹘y(tǒng)的"物理探針"來提高電路和系統(tǒng)的可測(cè)性。由于JTAG標(biāo)準(zhǔn)的通用性很好,現(xiàn)在許多IC公司都提供了支
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基于計(jì)算機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)接地技術(shù)探討
- 隨著微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,計(jì)算機(jī)被引入電子測(cè)量儀器,形成基于計(jì)算機(jī)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。計(jì)算機(jī)屬弱電設(shè)備,因此,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)極易受干擾。其中,接地干擾輕則給系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)帶來誤差,重則將出現(xiàn)“沖程序”現(xiàn)象,使整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)不能正常工作。所以,基于計(jì)算機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí),需要采用良好的接地技術(shù)。 1 接地概述 以大地作為零電位的基準(zhǔn),是基于地球的電容量極大。但是大地不是良導(dǎo)體,它的導(dǎo)電率介于導(dǎo)體與絕緣體之間,稱為半導(dǎo)體。當(dāng)一個(gè)電子系統(tǒng)內(nèi)兩個(gè)不同電位點(diǎn)分別進(jìn)行接地時(shí),在接地回路中流過電流,形成共模干擾造成
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飛兆半導(dǎo)體推出光隔離 MOSFET 柵極驅(qū)動(dòng)器
- 飛兆半導(dǎo)體公司(FairchildSemiconductor)宣布推出高頻光隔離MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器系列的全新產(chǎn)品,能夠在工業(yè)應(yīng)用中驅(qū)動(dòng)高達(dá)30A/1200V的MOSFET。FOD3180(2A)和FOD3181(0.5A)具有200ns(最大)的上升/下降時(shí)間,能夠迅速開啟/關(guān)斷MOSFET以減小開關(guān)損耗。FOD3180具有高達(dá)2A的峰值輸出電流,毋須額外的功率放大線路便可直接驅(qū)動(dòng)寬范圍的MOSFET。在太陽能逆變器、高性能不間斷電源(UPS)、DC/DC轉(zhuǎn)換器,以
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飛兆半導(dǎo)體推出光隔離 MOSFET 柵極驅(qū)動(dòng)器
- 飛兆半導(dǎo)體公司(FairchildSemiconductor)宣布推出高頻光隔離MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器系列的全新產(chǎn)品,能夠在工業(yè)應(yīng)用中驅(qū)動(dòng)高達(dá)30A/1200V的MOSFET。FOD3180(2A)和FOD3181(0.5A)具有200ns(最大)的上升/下降時(shí)間,能夠迅速開啟/關(guān)斷MOSFET以減小開關(guān)損耗。FOD3180具有高達(dá)2A的峰值輸出電流,毋須額外的功率放大線路便可直接驅(qū)動(dòng)寬范圍的MOSFET。在太陽能逆變器、高性能不間斷電源(UPS)、DC/D
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印度的下一波浪潮是什么?本地電子市場(chǎng)!
- 據(jù)在班加羅爾的風(fēng)險(xiǎn)投資家和美國芯片領(lǐng)導(dǎo)廠商稱,印度具有針對(duì)IT后端和半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)服務(wù)這樣的軟件外包目的地的鮮明優(yōu)勢(shì),與此同時(shí),本地電子設(shè)備硬件市場(chǎng)的增長有望得到迅速地發(fā)展。 “印度的數(shù)字經(jīng)濟(jì)正開始發(fā)展,并且它將推動(dòng)本地(硬件)市場(chǎng),”據(jù)SandalwoodPartners的執(zhí)行總監(jiān)BobKondamoori表示,SandalwoodPartners是印度及亞太地區(qū)極具活力的一家風(fēng)險(xiǎn)投資(VC)公司
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美國理想推出全新電壓/諧波監(jiān)測(cè)儀
- 新年伊始,美國理想工業(yè)公司(IDEAL)推出了一款新型電壓/諧波監(jiān)測(cè)儀61-830,這種功能強(qiáng)大的故障定位工具能夠?qū)﹄妷后E降、驟升、脈沖和諧波進(jìn)行精確的探測(cè)和記錄。無論是內(nèi)在或外在的電能質(zhì)量問題,利用61-830都可以一覽無余。其最大特點(diǎn)是設(shè)置簡單,不需要計(jì)算機(jī)或特殊軟件的幫助,即可及時(shí)報(bào)告電壓事件發(fā)生和持續(xù)的時(shí)間以及嚴(yán)重程度,為電能質(zhì)量分析開辟了新的途徑。 隨著精密電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)供電質(zhì)量的關(guān)心有增無減。不論是工業(yè)供電,商用供電,還是家庭供電,劣質(zhì)供電將增加設(shè)備運(yùn)行費(fèi)用、質(zhì)保費(fèi)用、宕機(jī)
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USB2.0虛擬邏輯分析儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 引言 傳統(tǒng)的邏輯分析儀體積龐大、價(jià)格昂貴、通道數(shù)目有限,并且在數(shù)據(jù)采集、傳輸、存儲(chǔ)、顯示等方面存在諸多限制,在很大程度上影響了其在實(shí)際中的應(yīng)用。選用高性能的FPGA芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,充分利用PC的強(qiáng)大處理功能,配合LabView圖形化語言開發(fā)的虛擬邏輯分析儀,其數(shù)據(jù)處理和傳輸速率大大提高,適用性極大增強(qiáng),其顯示、操作界面和低廉的成本較之傳統(tǒng)的邏輯分析儀具有極大的優(yōu)勢(shì)和發(fā)展前景。 工作原理 本設(shè)計(jì)選用Altera公司的Cyclone系列FPGA器件EP1C3進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和處理,外接S
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DSA70000系列示波器使用DSP實(shí)現(xiàn)獨(dú)一無二的帶寬變化功能
- 新型DSA70000系列包含多個(gè)型號(hào)的示波器,提供類似的功能集并跨越三個(gè)帶寬等級(jí):帶寬達(dá)到12.5 GHz的DSA71254、帶寬達(dá)到16 GHz的DSA71604 和帶寬達(dá)到20 GHz DSA72004。最終用戶可依據(jù)自己要采集的最大信號(hào)頻率來選擇各自所需的解決方案。新型DSA70000系列示波器與同級(jí)別性能的其它產(chǎn)品不同。在即將推出的這些產(chǎn)品上,用戶都能發(fā)現(xiàn)獨(dú)一無二的 “帶寬撥盤”功能,基于 DSP 的這一功能讓用戶可以優(yōu)化每個(gè)儀器的帶寬,以便匹配(而不是超過)特定應(yīng)用的測(cè)量需要。不是每次測(cè)量都是全
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LED基本理論知識(shí)(1)
- 一、 半導(dǎo)體發(fā)光二極管工作原理、特性及應(yīng)用 (一)LED發(fā)光原理 發(fā)光二極管是由Ⅲ-Ⅳ族化合物,如GaAs(砷化鎵)、GaP(磷化鎵)、GaAsP(磷砷化鎵)等半導(dǎo)體制成的,其核心是PN結(jié)。因此它具有一般P-N結(jié)的I-N特性,即正向?qū)ǎ聪蚪刂埂舸┨匦浴4送猓谝欢l件下,它還具有發(fā)光特性。在正向電壓下,電子由N區(qū)注入P區(qū),空穴由P區(qū)注入N區(qū)。進(jìn)入對(duì)方區(qū)域的少數(shù)載流子(少子)一部分與多數(shù)載流子(多子)復(fù)合而發(fā)光,如圖1所示。 假設(shè)發(fā)光是在P區(qū)中發(fā)生的,那么注入的電子與價(jià)帶空穴直接復(fù)合而發(fā)
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泰克推出20GHz實(shí)時(shí)帶寬和50GS/s同步取樣速率示波器
- TEK推出業(yè)界第一款具有 20 GHz 實(shí)時(shí)帶寬和 50 GS/s 同步取樣速率的超高性能示波器。新問世的DSA70000 系列數(shù)字串行分析器(DSA)產(chǎn)品線包括如下機(jī)型:20 GHz的DSA72004、16GHz的DSA71604和12.5GHz的DSA71254。這些新產(chǎn)品均具有無與倫比的性能和分析能力,并有力擴(kuò)充了去年夏天與 DSA 示波器同步推出的實(shí)時(shí) DPO 性能平臺(tái),這些
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安捷倫擴(kuò)展USB 2.0測(cè)試范圍改善接收機(jī)一致性自動(dòng)化測(cè)試
- 安捷倫宣布在Agilent 81134A 3.35 GHz脈沖碼型發(fā)生器上增加了USB 2.0接收機(jī)測(cè)試功能, 使研發(fā)工程師能夠擴(kuò)大測(cè)試范圍和進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。 盡管USB設(shè)備目前已得到廣泛應(yīng)用,但是設(shè)計(jì)時(shí)的測(cè)試范圍仍不足以確保消除所有最終用戶的互操作性問題。在接收機(jī)測(cè)試等方面的一個(gè)未發(fā)現(xiàn)的設(shè)計(jì)問題,可能給最終用戶造成巨大影響。間歇性的系統(tǒng)崩潰會(huì)極大增加支持費(fèi)用。在裝運(yùn)給客戶之后發(fā)現(xiàn)問題的代價(jià)是在設(shè)計(jì)期間發(fā)現(xiàn)問題的一千多倍。 新的接收機(jī)測(cè)試性能使
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安捷倫推出具有完全抖動(dòng)注入功能的7Gb/s和12.5Gb/s碼型發(fā)生器
- 安捷倫推出帶有完全抖動(dòng)注入能力的J-BERT N4903A 7 Gb/s和12.5 Gb/s碼型發(fā)生器。設(shè)計(jì)和測(cè)試工程師現(xiàn)在可以使用所有類型的抖動(dòng)快速精確地激勵(lì)串行高速端口,以確保更高質(zhì)量的設(shè)備性能表征。Agilent J-BERT N4903A碼型發(fā)生器可與示波器、內(nèi)置誤碼檢測(cè)器或其他分析儀連用。 計(jì)算機(jī)行業(yè)正在推出使用PCI Express、串行高級(jí)技術(shù)附件和全緩沖DIMM(雙列直插內(nèi)存模塊)等技術(shù)的下一代多千兆位設(shè)備。工程
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泰克DSA70000示波器和P7500探頭構(gòu)成高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試平臺(tái)的核心
- 泰克推出新的 DSA70000 系列實(shí)時(shí)數(shù)字串行分析儀(DSA)和 P7500 探頭,這兩款新面世的產(chǎn)品將以其世界領(lǐng)先的測(cè)試性能為新一代高速串行數(shù)據(jù)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)(如 PCI-Express 2.0、HDMI 1.3 和 SATA III)的開發(fā)提供最有力的支持。這兩款新品與泰克公司最近推出的 DSA8200 采樣示波器和 AWG7000 信號(hào)發(fā)生器一起組成了一套完整測(cè)
- 關(guān)鍵字: DSA70000 P7500 測(cè)量 測(cè)試 測(cè)試平臺(tái) 高速串行 核心 示波器 數(shù)據(jù) 泰克 探頭
半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的理解,并與今后在此搜索半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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